Измерение параметров изделий микроэлектроники, наряду с функциональным контролем и испытаниями, является единственно возможной операцией, выполняющей функцию получения информации о ходе разработки, производства и эксплуатации изделий микроэлектроники.

Именно эти вопросы подробно рассматриваются в двух предлагаемых книгах:

1). «Измерения и контроль в микроэлектронике» под ред. А.А.Сазонова.
Издательство: Москва, «Высшая школа».
Год издания: 1984.
Язык: русский.
Количество страниц: 367.
Оформление: твёрдый переплёт.

2). «Функциональный контроль БИС оперативных запоминающих устройств и микропроцессоров».
Авторы: Л.М.Попель, Н.Н.Данилин.
Издательство: Москва, ЦНИИ «Электроника».
Год издания: 1981.
Язык: русский.
Количество страниц: 68.
Оформление: мягкий переплёт, брошюра.

И хотя с момента выхода данных книг микроэлектроника (изделия, технология, оборудование) ушли далеко вперёд, базовые основы понятий остались неизменными.

Что касается цены за обе книги (15 BYN), то на OZONе одна продавалась за 33,50 BYN и сейчас их в наличии уже нет (раритетная литература) - см. последнее фото.

Забирать: Курасовщина, район пл. Казинца (ул. Корженевского, д. 33).
Или можно пересечься в городе в удобное для продавца и покупателя время и в удобном для обоих месте.
Могу подъехать к ст. метро «Малиновка» или «Слуцкий гостинец» (они для меня ближайшие). Ещё как вариант – ст. метро «Институт культуры».